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2024年04月29日 星期一

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  • 沈阳天星膜厚仪ED400型

  • 更新时间:2021-08-16
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    李浩 先生

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ED400型 涡流测厚仪

 

        ED400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型,仪器性能提高。

        仪器适于测量非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。

       仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查, 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。   

ED400型涡流测厚仪 特点

量程宽ED400型涡流测厚仪量程达到0500 μm            

精度高  测量精度达到2%。 

分辨率高  分辨率达到0.1μm 

校正简便  只校正“0”“50 μm”两点,即可在全量程范围内保证设计精度。

基体导电率影响小基体材料从纯铝变化到铝合金、紫铜、黄铜时,测量误差不大于12 μm

可靠性提高采用高集成度、高稳定性电子器件,电路结构优化,仪器可靠性提高。

稳定性提高采用的温度补偿技术,测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场长期使用。

探头芯寿命长采用高强度磁芯材料,微调了探头设计,探头芯寿命可大大延长。

  技术参数


  测量范围:

  0500 μm

  测量精度:

  050 μm±1 μm


  50500 μm±2%

  分辨率:

  050 μm0.1 μm


  50500 μm1 μm


  0500 μm1 μm(可选)

  使用温度:

  545℃

  外形尺寸:

  150 mm×80 mm×30 mm


  重量:

  280 g


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